产品详细内容
产品型号: 3-5074-01
功能
- Features required for RoHS/ELV screening analysis are included as standard.
- The device automatically determines everything from the principal component determination to the selection of conditions.
- You can easily set the analysis position while checking the camera image with the sample observation function.
- Equipped with an automatic X-ray tube ball aging function, equipment maintenance can be minimized.
- It has a detector that does not require cooling by liquid nitrogen, thus reducing running costs.
- By adding optional options, you can perform halogen and antimony screening analysis, qualitative and quantitative analysis, matching (Steel type discrimination, variety discrimination), and thin film analysis.
规格
- 型号:EDX-LE
- 尺寸 (公厘) :520 x 650 x 420
- 重量 (公斤) :约60
- 设定内容:主机、控制电脑、印表机
- 测量原理:荧光X射线分析法
- 测量方法:能量分散型
- 测量目标:固体、液体、粉末
- 峰值识别侦测范围:13AL-92U
- 样品室大小:最大370 x 320 x 155 mm
- 冷却方法:空气冷却 (带风扇)
- 照射区域:φ3·5·10 mm
- 主要滤镜:5种类型+OPEN
- 类型:Si-PIN半导体探测器
- 计数类型:数字滤波器计数处理
- 测量大气:大气
- 样品观察:半导体摄像机
- 支援的作业系统:Windows (R) 7
- 电源:单相AC100V 50/60Hz
- 电源线长度:2.5公尺
- 测量原理:荧光X射线分析法
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- 类型:Si-PIN半导体探测器
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