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日本三丰快微MDQ-55MX（附英文通用校准证书）

发布时间：2025-07-08 分类： 日本三丰 11次阅读

日本三丰快微MDQ-55MX（附英文通用校准证书）Quick Micro系列测微仪允许测微头旋转一周，测微头主轴移动10毫米，因此可以快速测量不同尺寸形状的尺寸。测量面配备硬质合金测微头。配备恒压装置。应用部件编号：MDQ-55MX（含英文版通用校准证书）内容：1套

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