日本三丰158系列光学平晶OF-45B(附校准证书及追溯系统图)用于精确测量测量表面的平面度。应用部件编号:OF-45B(附校准证书和可追溯性系统图)厚度(mm):12外径(Φmm):45平面度(μm):0.2三丰部件编号:-校准证书:一般校准
日本三丰158系列光学平晶OF-45B(附校准证书及追溯系统图)
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